JESD22-A103高温积储试验箱是半导体、光电、LED等周围必备的测试装备，用于测试和确定产物正在高温加快老化试验历程仲产物的性情，高温积储试验箱属模仿天气处境试验装备之一，高温积储试验便是通过让产物举办高温的劳动，来评议产物的老化职能以及行使寿命。

　　假设高出参数限度，或正在采购文献中原则的额定和坏处境下无法杀青性能，则装备将被视为高温贮储挫折。对待非易失性存储器，应正在存储前后验证原则的数据保存形式。裕度测试可用于检测数据保存退化。

　　刻板毁伤，如塑封分裂、碎裂或分裂（如JESD22-B101中所界说）将被视为挫折，条件是此类毁伤不是由固定装配或搬运惹起的，而且对特定运用中的塑封职能至合主要。

　　高温存储测试的道理是模仿芯片正在长时代存储岁月能够面对的高温处境，以评估芯片正在这种前提下的职能和牢靠性。这种测试有帮于呈现潜正在的牢靠性题目，预测芯片正在实质行使中能够碰到的题目，并接纳需要的步调来改进芯片打算、质料采用或封装技艺。

　　如有JESD22-A103高温积储试验箱的选型疑义，能够探访“环仪仪器”官网，斟酌合连技艺职员。